Bài viết kỹ thuật

Cách đo độ dày của lớp phủ trên hạt nano

2023-08-30

Các hạt nano được sử dụng rộng rãi trong nhiều lĩnh vực khác nhau như phân phối thuốc, hình ảnh và khoa học vật liệu. Lớp phủ trên bề mặt hạt nano có thể ảnh hưởng đến tính chất và hiệu suất của chúng. Vì vậy, điều cần thiết là phải đo độ dày của lớp phủ để hiểu tác dụng của chúng đối với các hạt nano. Trong bài đăng trên blog này, chúng tôi sẽ giới thiệu một số phương pháp đo độ dày của lớp phủ trên hạt nano.


1. Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM)


TEM là một kỹ thuật hình ảnh mạnh mẽ có thể cung cấp hình ảnh có độ phân giải cao của các hạt nano. Nó cũng có thể được sử dụng để đo độ dày của lớp phủ trên hạt nano. TEM hoạt động bằng cách truyền một chùm electron qua mẫu và sự tương tác giữa electron và mẫu có thể được sử dụng để tạo ra hình ảnh. Bằng cách sử dụng TEM, độ tương phản giữa lớp phủ và hạt nano có thể được sử dụng để đo độ dày của lớp phủ.


2. Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM)


AFM là một kỹ thuật hình ảnh khác có thể được sử dụng để đo độ dày của lớp phủ trên hạt nano. Nó hoạt động bằng cách quét bề mặt của mẫu bằng một đầu dò nhỏ. Đầu dò có thể đo chiều cao của mẫu với độ chính xác cao, có thể sử dụng để tính toán độ dày lớp phủ trên hạt nano. AFM có thể cung cấp hình ảnh có độ phân giải cao và phù hợp để đo độ dày lớp phủ trên một hạt nano.


3. Quang phổ tia cực tím (UV-Vis)


Quang phổ UV-Vis là một kỹ thuật có thể được sử dụng để đo độ dày của lớp phủ trên một số lượng lớn các hạt nano cùng một lúc. Nó hoạt động bằng cách đo phổ hấp thụ của hạt nano trong dung dịch. Lớp phủ trên hạt nano có thể ảnh hưởng đến quang phổ hấp thụ và độ dày của lớp phủ có thể được tính toán dựa trên mức độ dịch chuyển quang phổ. Quang phổ UV-Vis là phương pháp nhanh chóng và đơn giản để đo độ dày của lớp phủ trên hạt nano.


4. Cân vi lượng tinh thể thạch anh (QCM)


QCM là một kỹ thuật có độ nhạy cao có thể được sử dụng để đo khối lượng hạt nano. Bằng cách đo sự thay đổi khối lượng của các hạt nano có và không có lớp phủ, độ dày của lớp phủ có thể được tính toán. QCM có thể cung cấp khả năng giám sát thời gian thực về độ dày của lớp phủ và phù hợp để nghiên cứu tính ổn định và động học của lớp phủ trên hạt nano.


Tóm lại, có một số phương pháp đo độ dày của lớp phủ trên hạt nano, mỗi phương pháp đều có những ưu điểm và hạn chế. Việc lựa chọn phương pháp phụ thuộc vào yêu cầu cụ thể của ứng dụng. Bằng cách hiểu độ dày của lớp phủ trên hạt nano, chúng ta có thể thiết kế và tối ưu hóa các đặc tính và chức năng của chúng cho các ứng dụng khác nhau.

8613929258449
sales03@satnano.com
X
We use cookies to offer you a better browsing experience, analyze site traffic and personalize content. By using this site, you agree to our use of cookies. Privacy Policy
Reject Accept