Các công cụ phát hiện thường được sử dụng để phân tích thành phần củavật liệu nanobao gồm:
1. ICP (Plasma ghép cảm ứng): ICP là công nghệ được sử dụng rộng rãi trong lĩnh vực hóa phân tích và khoa học vật liệu. Nó có thể được sử dụng để xác định hàm lượng và thành phần của các nguyên tố trong vật liệu nano. Bằng cách chuyển đổi mẫu thành các ion khí và sử dụng phổ plasma được tạo ra để xác định nồng độ của các nguyên tố. ICP-MS (Máy quang phổ khối plasma kết hợp cảm ứng) kết hợp kỹ thuật ICP và khối phổ để phân tích nồng độ cực thấp của các nguyên tố trong vật liệu nano.
2. XRF (X-ray Fluoroscopy): XRF là công nghệ được sử dụng rộng rãi để phân tích vật liệu và kiểm tra không phá hủy. Nó xác định thành phần của các nguyên tố bằng cách chiếu tia X lên bề mặt hoặc bên trong mẫu và đo bức xạ huỳnh quang của các đặc tính nguyên tố trong mẫu. XRF phù hợp với nhiều loại vật liệu nano, bao gồm các mẫu rắn, lỏng và bột.
3. EDS (Quang phổ tia X phân tán năng lượng): EDS là kỹ thuật kính hiển vi điện tử xác định thành phần các nguyên tố trong mẫu bằng cách đo tia X được tạo ra bởi sự tương tác giữa chùm tia điện tử và mẫu trong vật liệu. EDS thường được sử dụng kết hợp với kính hiển vi điện tử quét (SEM) để phân tích thành phần bề mặt của vật liệu nano.
